Microscopie électronique à balayage (SEM : Scanning Electron Microscopy)
Microscope électronique à balayage équipé d’un détecteur de rayons X
Appareil analogue au microscope optique mais dans lequel les rayons lumineux sont remplacés par un flux incident d’électrons. Les électrons reflétés fournissent une image de la surface de l’objet ou de l’échantillon prélevé. Les nuances de gris obtenues sont fonction du poids atomique des matières en présence.
Applications
- Multiples.
Avantages
- Possibilité d’examiner une particule extrêmement ténue;
- Pas de problème de profondeur de champ;
- Grossissements très importants.
Détecteur de rayons X : (EDX : Energy dispersive X-ray spectroscopy)
Consiste à coupler à un microscope électronique à balayage un système d’analyse élémentaire basé sur la micro-fluorescence des rayons X afin de pouvoir analyser des zones bien précises d’un échantillon. Combinée au SEM, l’EDX est en mesure d’analyser des échantillons de la taille du nanomètre et de donner leur composition élémentaire. Les rayons X secondaires produits lors de l’impact du faisceau d’électrons sur l’échantillon sont caractéristiques des éléments présents dans le matériau analysé. Cette technique n’est pas à proprement parler une spectrométrie car la source n’est pas d’origine électro-magnétique.
- Extrêmement variées.
- Identification des constituants minéraux de chaque strate d‘une couche picturale ;
- Identification et quantification des composants d’un alliage ;
- Identification des types de corrosion ;
- Vérification de la nature des concrétions métalliques qui cristallisent à la surface des objets archéologiques ;
- Permet de focaliser la source d’excitation en un point précis de l’échantillon ou, au contraire, de procéder au balayage de toute la surface ou d’une zone déterminée du prélèvement ;
- Permet d’étudier la manière dont les éléments se combinent les uns aux autres par l’intermédiaire du „mapping“ (image de la distribution de chaque élément au sein de l’échantillon).
